在測壓敏電阻漏流時(shí)，顯示漏流值為什么漸漸上升至穩定，短時(shí)間內測同一個(gè)元器件，測出的數據為什么不一致？

 被測壓敏電阻在測試時(shí)，由于元器件內部溫度影響，測漏流時(shí)，大電流的沖擊，壓敏電阻內部溫度變化比較大，漏電流隨著(zhù)溫度的變化而變化，zui后趨于穩定。氣體放電管內部由于是隋性氣體組成。在電流的沖擊下，短時(shí)間內難以恢復原來(lái)狀態(tài)必須經(jīng)過(guò)一段時(shí)間恢復，才能獲得準確結果，保證重復測試精度。


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